車(chē)規(guī)新能源芯片IC逆向失效分析 芯片失效分析開(kāi)封試驗(yàn)機(jī)
Laser deCar 去除半導(dǎo)體芯片的塑封外殼,PCB板截面切割,以及其它類(lèi)似的破壞性物理試驗(yàn)或失效分析場(chǎng)景。
芯片晶圓提取工藝技術(shù),芯片驗(yàn)證工藝流程技術(shù)。
與化學(xué)開(kāi)封技術(shù)相比,激光開(kāi)封更加高效,同時(shí)避免了減少?gòu)?qiáng)酸環(huán)境暴露。
主要用于對(duì)集成電路開(kāi)蓋,露出晶圓及綁定金銅銀線,用于研究測(cè)試及修復(fù)功能。從而提升技術(shù)及質(zhì)量品控效guo
售前服務(wù): 1、我們會(huì)在半個(gè)工作日之內(nèi),為您提供相關(guān)技術(shù)支持和產(chǎn)品行業(yè)資料。
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2、專人負(fù)責(zé)下單到交的貨整個(gè)流程,服務(wù)也是生產(chǎn)力。
3、免費(fèi)安裝、調(diào)試和對(duì)操作、維修人員培訓(xùn)。
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采用研發(fā)的激光開(kāi)蓋機(jī)軟件系統(tǒng),非接觸式激光加工無(wú)任何機(jī)械應(yīng)力,芯片開(kāi)蓋時(shí)不會(huì)導(dǎo)致任何變形