Thick800A鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。 Thick800A系列X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

2、性能優(yōu)勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求 小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求 高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自動定位測試高度 定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊 鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點 高分辨率探頭使分析結果更加* 良好的射線屏蔽作用 測試口高度敏感性傳感器保護

3、技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 一次可同時分析多達五層鍍層 薄可測試0.005μm 分析含量一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同） 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回收程序 長期工作穩(wěn)定性高 度適應范圍為15℃至30℃ 電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm 重量：90 kg

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。 以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。

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