牛津多功能孔面銅測(cè)厚儀CMI700

英國(guó)牛津儀器公司(OIMS)于2001年收購(gòu)了原美國(guó)CMI公司的涂鍍層測(cè)厚儀的業(yè)務(wù)，其中包括CMI700、CMI500、CMI165等涂鍍層測(cè)厚儀，牛津多功能孔面銅測(cè)厚儀CMI700是用于測(cè)量表面銅厚和孔內(nèi)壁銅的厚度。CMI系列的產(chǎn)品應(yīng)用十分廣泛，包括：

電子行業(yè)檢驗(yàn)，如電路板鍍膜厚度測(cè)試              

? 家具、電器行業(yè)鍍漆厚度檢驗(yàn)

? 汽車(chē)工業(yè)鍍漆厚度檢驗(yàn)，航空航天工業(yè)檢驗(yàn)

? 緊固件鍍膜測(cè)試，石油、天然氣輸送管道防蝕鍍膜檢驗(yàn)

? 普通管道防蝕鍍膜檢驗(yàn)，公共設(shè)施鍍漆厚度檢驗(yàn)

磁性基材上的非磁性鍍層

導(dǎo)性基材上的非導(dǎo)性鍍層

磁性基材上的電鍍層

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

銅厚測(cè)量范圍：

化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)

電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)

線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片

度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試總線小孔直徑：35 mils (899 μm)

測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)

電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

準(zhǔn)確度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）

分辨率：0.01 mils (0.1μm)

牛津多功能孔面銅測(cè)厚儀CMI700的優(yōu)點(diǎn)：

1.孔銅和面銅鍍層厚度一體測(cè)量，方便，高            

2.采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確的測(cè)量 

3.測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。      

4.同時(shí)CMI700具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。SRP-4系列探頭應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)，通過(guò)厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響。可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。損耗的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地更換，將停機(jī)時(shí)間縮短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。 

孔面銅測(cè)試儀配置：

CMI700主機(jī)

面銅應(yīng)用:

SRP-4探頭

SRP-4探頭替換用探針模塊(1個(gè)）

NIST的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片(2個(gè)）

穿孔銅應(yīng)用:

ETP探頭

NIST的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片(1個(gè)）

可選備件：

面銅SRP-4

SRG軟件