品型號(hào):日本日置HIOKI3532-50 LCR測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹 日本日置HIOKI3532-50 LCR測(cè)試儀 說(shuō)明:
LCR測(cè)試儀 3532-50元器件測(cè)量,LCR測(cè)試儀 3532-50搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀
測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整,可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。
操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
基本參數(shù)
測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整 可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái) LCR測(cè)試儀 3532-50基本參數(shù)
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品型號(hào):日本日置HIOKI3532-50 LCR測(cè)試儀
簡(jiǎn)單介紹
日本日置HIOKI3532-50 LCR測(cè)試儀 說(shuō)明:
LCR測(cè)試儀 3532-50元器件測(cè)量,LCR測(cè)試儀 3532-50搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀
測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整,可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。
操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
基本參數(shù)
測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整
可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
LCR測(cè)試儀 3532-50基本參數(shù)
檢測(cè):電壓,AC
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S