銷(xiāo)售8753D網(wǎng)絡(luò)分析儀

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頻率范圍：300KHz-3GHz(標(biāo)準(zhǔn)） 300kHz-6GHz（選件006）
頻率范圍30kHz~6GHz
集成化S參數(shù)測(cè)試裝置
集成化1Hz分辨率合成信號(hào)源
可選用時(shí)域測(cè)量和掃描諧波測(cè)量
達(dá)110dB的動(dòng)態(tài)范圍
可測(cè)量群延遲和與線性相位的偏離
對(duì)內(nèi)置磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)/調(diào)用
提高內(nèi)置精度
HP 8753D射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀
HP 8753D 射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀以低廉的價(jià)格為實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)測(cè)試提供了優(yōu)越的RF網(wǎng)絡(luò)測(cè)量設(shè)備。它具有集成化的S參數(shù)測(cè)試裝置，延長(zhǎng)了校準(zhǔn)間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號(hào)的測(cè)試設(shè)備更低的價(jià)格為分析30kHz~6GHz的有源或無(wú)源網(wǎng)絡(luò)、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。
網(wǎng)絡(luò)分析儀有2個(gè)獨(dú)立的顯示通道，供同時(shí)顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時(shí)域和掃頻測(cè)量。便于使用的預(yù)編程按鍵使你能迅速訪問(wèn)各個(gè)測(cè)量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測(cè)量結(jié)果。
好的通用性和性能
集成化的合成信號(hào)源提供達(dá)10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對(duì)數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類(lèi)型。三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)允許在6GHz上(利用選件006頻率擴(kuò)展)，在105dB的寬動(dòng)態(tài)范圍或在3GHz上在100dB的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)(標(biāo)準(zhǔn)情況)進(jìn)行獨(dú)立功率測(cè)量或同時(shí)進(jìn)行的比值測(cè)量。集成化測(cè)試裝置允許在不使用倍頻器的情況下，對(duì)工作到6GHz的器件進(jìn)行傳輸和反射特性測(cè)量。 為了在非同軸系統(tǒng)中進(jìn)行方便而的測(cè)量，特增加了TRL*/LRM*1校準(zhǔn)。高穩(wěn)定度的頻率基準(zhǔn)(選件1D5)提高了對(duì)高Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測(cè)量精度。
提高效率
測(cè)試時(shí)序功能允許一次來(lái)迅速、反復(fù)執(zhí)行復(fù)雜的任務(wù)。在時(shí)序工作方式下，只需從面板測(cè)量一次，分析儀便能儲(chǔ)存鍵入，以致無(wú)需額外編程，還可以利用測(cè)試時(shí)序經(jīng)并行端口對(duì)外部裝置進(jìn)行控制。
另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、更快的CPU時(shí)鐘速率、512kB非易失存儲(chǔ)器、串行和并行接口，DIN鍵盤(pán)接口以及對(duì)打印輸出和文件提供時(shí)間記錄的實(shí)時(shí)時(shí)鐘。還包括極限測(cè)試、任意頻率測(cè)試和標(biāo)記跟蹤功能。分段校準(zhǔn)和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量精度。
非線性器件的測(cè)試
為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測(cè)量功能?？梢灾苯踊蛞詃Bc 顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。按動(dòng)一個(gè)按鈕，即可測(cè)量達(dá)-40dBc的諧波。功率計(jì)校準(zhǔn)向?qū)?輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的*功率。HP8753D自動(dòng)對(duì)HP436A、437B或438A功率計(jì)進(jìn)行控制，使在測(cè)試系統(tǒng)中任何處的功率都調(diào)到具有功率計(jì)的精度。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調(diào)和變頻損耗測(cè)量。還能進(jìn)行固定IF和掃描IF測(cè)量。
時(shí)域分析
利用選件010，能觀察在時(shí)域中的響應(yīng)。該分析儀對(duì)頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換(FFT)進(jìn)行計(jì)算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時(shí)間變化的關(guān)系。兩種時(shí)域分析方式能觀察器件的階躍響應(yīng)或沖擊響應(yīng)或除去一些不希望的響應(yīng)，如利用選通來(lái)除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準(zhǔn)技術(shù)的三取樣器執(zhí)行方式。
技術(shù)指標(biāo)摘要
測(cè)試裝置
集成化S參數(shù)測(cè)試裝置以50Ω(標(biāo)準(zhǔn))或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測(cè)量。外部測(cè)試裝置由選件011提供。

測(cè)試端口輸出

注:本公司*經(jīng)營(yíng)各類(lèi)二手進(jìn)口儀器（銷(xiāo)售、租賃、回收、維修業(yè)務(wù)），成色新，價(jià)格低，技術(shù)*、質(zhì)量可靠、性能穩(wěn)定的優(yōu)良產(chǎn)品。

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