XRF-W7能量色散X熒光光譜儀

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XRF-W7

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無(wú)

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暫無(wú)

更新時(shí)間
2021-05-13 17:52:30

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    能量色散X熒光光譜儀簡(jiǎn)稱(chēng)XRF,是一種物理的元素分析方法。近年來(lái)XRF主要作為一種快速檢測(cè)手段在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了很大的作用。XRF具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

    XRF-W7能量色散X熒光光譜儀

    一、概述

    能量色散X熒光光譜儀簡(jiǎn)稱(chēng)XRF,是一種物理的元素分析方法。近年來(lái)XRF主要作為一種快速檢測(cè)手段在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了很大的作用。XRF具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

    在環(huán)保領(lǐng)域和食品領(lǐng)域,XRF通過(guò)直接測(cè)試的方法,快速篩選出樣品中的有害元素是否出標(biāo)準(zhǔn)。

    XRF W7在金屬成分檢測(cè)方法具有優(yōu)越的測(cè)試表現(xiàn),可以測(cè)試銅合金的成分,鐵合金的成分,鋁合金的成分,測(cè)試穩(wěn)定性和準(zhǔn)確率在行業(yè)內(nèi)都比較好。

    XRF W7對(duì)測(cè)試電鍍鍍層應(yīng)用廣泛,可以測(cè)試鐵鍍鋅,鐵鍍鉻,銅鍍鎳金,銅鍍錫,……

    另外,XRF在現(xiàn)場(chǎng)分析和過(guò)程控制分析等方面的應(yīng)用很廣,例如廢舊金屬回收,土壤現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),在線(xiàn)物料檢測(cè)等

    二、儀器特點(diǎn)

    1.工業(yè)電腦及儀器一體化集成,運(yùn)行穩(wěn)定且外觀精美;

    去了插錯(cuò)線(xiàn)的煩惱,不用單獨(dú)的電腦和顯示器占用工作空間;

    2.采用真實(shí)500萬(wàn)像素?cái)z像頭,樣品觀察清晰,定位準(zhǔn)確;

    3.采用元素二次強(qiáng)度提取算法,提高了微量元素的檢出限;

    4.自定義的物料測(cè)試完成聲音提醒功能,方便操作人員多任務(wù)工作;

    5.工作指示燈采用流水燈控制模塊,操作人員更直觀了解儀器狀態(tài);

    6.軟件集成了同一模式多個(gè)RoHS限量標(biāo)準(zhǔn)的判斷功能;

    7.同一軟件集成了成分分析和鍍層厚度分析;

    8.核心配件獨(dú)立模塊設(shè)計(jì),避免相互電磁干擾,提高了儀器的檢出限,降低了儀器的故障率;

    9.多種語(yǔ)言軟件版本.

    三、設(shè)備功能

    1.集成數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,方便品質(zhì)部門(mén)通過(guò)篩選統(tǒng)計(jì)供應(yīng)商、物料名稱(chēng)、部件以及通過(guò)不同時(shí)間段測(cè)試狀況;

    2.提供開(kāi)放式工作曲線(xiàn)功能,可為用戶(hù)量身定做*的有害物質(zhì)檢測(cè)方法和控制方案;

    3.軟件開(kāi)機(jī)自檢與故障判斷功能,保證儀器始終在*工作狀態(tài)下運(yùn)行以及出現(xiàn)異常時(shí)及時(shí)排除;

    4.分析數(shù)據(jù)一鍵備份還原功能,避免因誤操作或其它原因造成的損失,保障數(shù)據(jù)及系統(tǒng)文件安全;

    5.根據(jù)用戶(hù)需求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式(Excel、PDF和列表等),符合工廠(chǎng)多種統(tǒng)計(jì)要求;

    6.具有核心硬件實(shí)時(shí)溫度監(jiān)控功能,通過(guò)熱源分析設(shè)計(jì)與軟件實(shí)時(shí)控制,將硬件的熱量及時(shí)排出,減少探測(cè)器受溫度變化而產(chǎn)生的影響;

    7.支持大樣品測(cè)試功能,并有流程指引設(shè)計(jì)

    四、技術(shù)參數(shù)

    1.元素分析范圍從硫S-鈾U之間的元素RoHS

    限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br鹵素/八大重金屬等

    合金:銅材,鐵合金,鎳合金,錫合金,鈦合金,貴金屬

    鍍層:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe

    2.樣品范圍:固體、液體、粉末

    3.*低檢出限:

    RoHS:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm

    成分分析:0.01%--99.99%

    鍍層分析:0.0035um--40um

    4、測(cè)試時(shí)間:60s-200s(軟件自動(dòng)調(diào)整)

    5.X射線(xiàn)源X射線(xiàn)光管(無(wú)輻射

    6.X光管窗口材料金屬鈹窗口

    7.X光管適用壽命大于20000小時(shí)

    8.探測(cè)器電制冷Si-Pin 探測(cè)器(美國(guó)進(jìn)口

    9.*分辨率145±5eV

    10.高壓電源0-50kev,0-2mA

    11.高壓保護(hù)措施過(guò)壓自保護(hù),自恢復(fù)

    12.高清晰攝像定位系統(tǒng)清晰*

    13.集成工業(yè)計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng):Windows7   無(wú)需外接電腦

    14.準(zhǔn)直器光斑φ1mm、3mm、4mm(軟件自動(dòng)選擇

    15.工作環(huán)境溫度溫度 temperature:15-30℃

    16.工作環(huán)境相對(duì)濕度≤85% (不結(jié)露 No dew

    17.輸入電源AC 220V±10%,50Hz

    18.額定功率128W

    19.儀器尺寸650mm*450mm*350mm

    20.樣品腔尺寸:280mm*280mm*200mm

    21.重量:32Kg

    22.輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn):符合GB18871-2002 GBZ115-2002標(biāo)準(zhǔn)


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