JW3319 PLC光分路器裸器件測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品概述

       JW3319PLC光分路器裸器件測(cè)試系統(tǒng)，專為解決當(dāng)前PLC裸器件測(cè)試面臨測(cè)試效率低，測(cè)試成本高，測(cè)試難度大等問(wèn)題。提供了一種嶄新的PLC測(cè)試方案。本系統(tǒng)結(jié)合了精密平臺(tái)、高速偏振控制器、高速光功率計(jì)的優(yōu)勢(shì)，并采用優(yōu)化控制算法，極大的減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本，提高了產(chǎn)品測(cè)試效率，并增加了PLC等級(jí)設(shè)置等更完善的數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)功能。

JW3319 PLC光分路器裸器件測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)

（1）：免帶纖熔接、免匹配液耦合，大幅降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化員工測(cè)試步驟，提高測(cè)試效率；

（2）：使用精密平臺(tái)自動(dòng)測(cè)試原理，降低測(cè)試難度，減少測(cè)試時(shí)間；提高測(cè)試精度;

（3）：采用高速偏振控制器，更全面邦加球覆蓋率，PDL測(cè)試值更準(zhǔn)確；

（4）：使用單纖歸零技術(shù)，大幅減少歸零時(shí)間，無(wú)通道非線性；

（5）：提供1260nm、1310nm、1490nm、1550nm、1620nm測(cè)試波長(zhǎng)，用戶可自行選擇單波長(zhǎng)至五波長(zhǎng)測(cè)試；

（6）：三波長(zhǎng)IL測(cè)試僅需3秒；三波長(zhǎng)IL+PDL測(cè)試僅需12秒;

（7）：全自動(dòng)測(cè)試、數(shù)據(jù)分析、電子表格保存功能；

（8）：PLC閾值設(shè)置、產(chǎn)品特性等級(jí)設(shè)置、分等級(jí)存儲(chǔ)等功能，滿足新的PLC光分路器測(cè)試應(yīng)用要求；

（9）：技術(shù)團(tuán)隊(duì)售后服務(wù)，使您測(cè)試無(wú)后顧之憂；

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