Langer RF4-E電場探頭組RF1  RF2 RF3 德國langer RF4-E 代

LANGER EMV-Technik為德國近場探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高辦識率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個很好的解決工具。

修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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LANGER EMV-Technik為德國近場探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高辦識率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個很好的解決工具。

修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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LANGER EMV-Technik為德國近場探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高辦識率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個很好的解決工具。

修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。

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LANGER EMV-Technik為德國近場探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高辦識率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個很好的解決工具。

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修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。