精密LCR測(cè)試儀

價(jià)格
¥28,000.00

型號(hào)
4285A

品牌
廣州精訊科技有限公司

所在地
廣東省 廣州市

更新時(shí)間
2019-03-30 01:50:02

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    精密LCR測(cè)試儀特惠  精密LCR測(cè)試儀4285A 詳情說(shuō)明

    產(chǎn)品名稱:LCR測(cè)試儀/電橋
    產(chǎn)品:Agilent/HP
    產(chǎn)品型號(hào):4285A
    Agilent4285A精密LCR測(cè)試儀HP4285A


    4285A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它們通過(guò)提供、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))。對(duì)射頻元件的測(cè)試,4285A給出更高的測(cè)試頻率范圍,從75KHz到30MHz。無(wú)論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),4284A和4285A能滿足全部LCR測(cè)量要求。

    4285A精密LCR測(cè)試儀詳細(xì)說(shuō)明: 
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.75kHz-30MHz以100Hz步進(jìn)
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.0.1%的基本精度
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.高速測(cè)量:30ms/一次測(cè)量
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.用Agilent42841A時(shí)給出10Adc
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.能用Agilent42851A進(jìn)行的Q測(cè)量
    ·4285A精密LCR測(cè)試儀.具有列表掃描測(cè)量功能
    規(guī)格指標(biāo):
    電源要求:100/120/220V±10% ,240V 5%/-10%, 47~66Hz
    功耗:200VAmax

    型號(hào):
    工作溫度和濕度:0℃~55℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95%
    尺寸:426mm(寬)×177mm(高)×498mm(長(zhǎng))(16.77英寸×6.97英寸×19.61英寸)
    重量:約16kg(35.2磅)

    技術(shù)指標(biāo):
    (全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)
    被測(cè)參數(shù):|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp;L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
    測(cè)量電路模式:串聯(lián)和并聯(lián)
    量程轉(zhuǎn)換:自動(dòng)和手動(dòng)
    觸發(fā):內(nèi)部、外部、手動(dòng)和總線(HP-IB)
    延遲時(shí)間:0~60.000s,以1ms步進(jìn)
    測(cè)量終端:四端對(duì)
    測(cè)試電纜長(zhǎng)度:
    4284A:標(biāo)準(zhǔn):0和1m;帶選件006時(shí):0,1,2,和4m
    4285A:0,1和2m
    積分時(shí)間:短、中等和長(zhǎng)
    取平均:1~256,可程控

    測(cè)試信號(hào):
    4284A:20Hz~1MHz±0.01%,8610個(gè)可選擇頻率
    4285A:75KHz~30MHz±0.01%,以100Hz步進(jìn)

    測(cè)試信號(hào)方式:
    標(biāo)準(zhǔn):分別在開路或短路的測(cè)量端,而不是在被測(cè)件上對(duì)選定的電壓或電流編程。
    恒定:維持被測(cè)件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)。

    示器:
    LCD點(diǎn)陣顯示:顯示被測(cè)值,控制設(shè)置,比較極限和判決,列表掃描表,自測(cè)試信息和信號(hào)指示。

    修正功能:
    開路/短路誤差為0:消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差。
    接負(fù)載:利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度。
    列表掃描功能:
    多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)編程??蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試。當(dāng)安裝上選件001時(shí),還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試。

    比較器:
    10倉(cāng)室(ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于二次測(cè)量參數(shù)。
    倉(cāng)室計(jì)數(shù):0~999999

    列表掃描比較器:
    高/符合/低判定輸出用于列表掃描中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)。
    其它功能存儲(chǔ)/加載:10個(gè)儀器設(shè)置由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)存儲(chǔ)卡存儲(chǔ)/加載。

    GPIB:所有儀器控制設(shè)置、被測(cè)值、比較極限、列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果。
    存儲(chǔ)器:
    存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)多128個(gè)測(cè)量結(jié)果,并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)、ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式。


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