1000度高溫顯微鏡熱臺 高溫探針臺 用于觀察高溫樣品結晶過程 和熱電阻測試 光學測試
電信號接頭 配線轉接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭 香蕉插頭 線長1.2米
探針材質 鍍金鎢針 (其他材質可選)
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1000度高溫顯微鏡熱臺 高溫探針臺 用于觀察高溫樣品結晶過程 和熱電阻測試 光學測試
電信號接頭 配線轉接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭 香蕉插頭 線長1.2米
電學性能 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤200V 電流噪聲 ≤10pA探針數(shù)量 4探針(可擴展5探針)
探針材質 鍍金鎢針 (其他材質可選)
手動探針移動平臺
X軸移動行程 20mm ±10mm(需手動推動滑臺)
X軸控制精度 ≥500μm
R軸移動行程 120° ±60°(需手動旋轉探針桿)
R軸控制精度 ≥500μm
Z軸移動行程 2mm ±1mm
Z軸控制精度 ≤50μm(需手動螺紋調節(jié)探針桿)