日置C測試儀3504-40高精度lcr測試儀日置代理商

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

高速測量2ms

能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷

對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能

3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試

3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試

查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率

基本參數(shù)

測量參數(shù)測量范圍基本精度測量頻率測量信號電平輸出電阻顯示測量時間功能電源體積及重量附件

Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）

C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000

（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016

※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù)

120Hz, 1kHz

恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V

測量范圍:

CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)

CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)

CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）

發(fā)光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定）

典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）

※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同

BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 大110VA

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

電源線×1，預(yù)備電源保險絲×1，使用說明書×1

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