日本NF LCR測試儀ZM系列概述
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域 實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途
日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。 使用ZM2376,測量的再現(xiàn)性得到了進一步提高。
技術參數(shù)
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日本NF LCR測試儀ZM系列概述
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域
實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途
日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376,測量的再現(xiàn)性得到了進一步提高。
測量頻率:100kHz
測量信號電平:1V
技術參數(shù)